Vai trò của tổn hao lớp điện môi lên sự mở rộng vùng có chiết suất âm sử dụng mô hình lai hóa bậc hai

Tác giả: Nguyễn Thị Hiền, Nguyễn Xuân Ca, Nguyễn Thị Mây, Phạm Minh Tân, Nguyễn Thanh Tùng, Vũ Đình Lãm

Nhà xuất bản: Tạp chí Khoa học Trường Đại học Sư phạm Hà Nội 2